Elektronový mikroskop s xenonovým fokusovaným iontovým svazkem

Předmětem veřejné zakázky je dvojsvazkový elektronový mikroskop s xenonovým fokusovaným iontovým svazkem (dual beam) SEM/PFIB v sestavě dle technických specifikací. Součástí poptávané sestavy je i analytické vybavení pro metody EDS, EBSD a SIMS. SEM/PFIB mikroskop se všemi podpůrnými zařízeními (dále jen „mikroskop“) je dodán v takové konfiguraci, která zaručuje plnou funkčnost celku a všech jeho částí, tj. všechna nezbytná pomocná zařízení jsou součástí dodávky a jejich vzájemná spolupráce je zaručena. Mikroskop rovněž obsahuje dostatečná bezpečnostní opatření chránící mikroskop jako celek, jeho vakuový systém a elektroniku před vážným poškozením v případě náhlého přerušení dodávky elektrické energie, poruše vodního chlazení (je-li využíváno) a vakuového čerpacího systému. Pokud není systém inherentně bezpečný vůči zničení elektronového a iontového zdroje (případně dalších citlivých komponent) při ztrátě vakua, pak musí vakuový systém udržet bezpečnou tlakovou úroveň v kritických částech tubusu po dobu nejméně 30 minut. Pokud je pro zajištění havarijní funkce, tj. zabezpečení bezpečného stavu zdroje elektronů i iontů, potřeba samostatný záložní zdroj (UPS) o větším výkonu než 4,8 kW (viz odst. 2, kap. III., příloha C), bude tento zdroj součástí dodávky. Záložní zdroj v tom případě zaručí udržení bezpečných podmínek po dobu minimálně 12 hodin. Z důvodu omezeného prostoru v dostupné technické místnosti je dále požadováno, aby bylo možné UPS včetně bateriových modulů instalovat do stávající 19“ rozvaděčové skříně s hloubkou 800 mm. Volný prostor ve skříni má výšku 10 U (rack unit). Podrobně je předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které jsou součástí příloh zadávací dokumentace.